一、葉面積指數(shù)測量儀介紹

葉面積指數(shù)測量儀是用于各種高度植物冠層研究的儀器，可以無損測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）等參數(shù)。廣泛應(yīng)用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析以及農(nóng)林業(yè)科研工作。

二、葉面積指數(shù)測量儀作用

1、無損測量：快速無損傷獲取植物冠層圖像，不影響植物生長。

2、魚眼鏡頭可自動(dòng)保持水平狀態(tài)：安裝在手持式萬向平衡接頭上的魚眼攝像鏡頭可自動(dòng)保持鏡頭處于水平狀態(tài)，無需三角架。

3、快速分層測量：魚眼鏡頭可水平向前或垂直向上伸入到冠層不同高度處，快速進(jìn)行分層測量，測出群體內(nèi)光透過率和葉面積指數(shù)垂直分布圖。

4、可屏蔽不合理冠層部分：對(duì)不同方向的冠層進(jìn)行區(qū)域性分析時(shí)，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠層部分(如缺株、邊行問題等)。對(duì)不同天頂角起始角和終止角的選擇，可以避開不符合計(jì)算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層孔隙條件。通過手動(dòng)調(diào)節(jié)闖值，可以更精準(zhǔn)的測量葉面積指數(shù)等參數(shù)。

三、葉面積指數(shù)測量儀原理

葉面積指數(shù)測量儀是采用冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理，依據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律。在葉面積指數(shù)定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過冠層孔隙率的測定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。